Menu

Sauter TN 80-0.1US Måleapparat til materialetykkelse 0.75 - 80 mm

- Eksternt målehoved - data interface RS-232, som standard (kun modeller med læsbarhed = 0,01 mm) - leveres i robust bæretaske - scan-tilstand (10 målinger pr. sekund) eller enkelt målepunkt kan vælges - intern datahukommelse til op til 20 filer (med op til 100 individuelle værdier pr. .

Bedste tilbud

Pris Sauter TN 80-0.1US Måleapparat til materialetykkelse 0.75 - 80 mm

Tienda Pris Forsendelsesomkostninger Samlet beløb Forsendelsesdage Tilgængelig Tilstand
Sauter TN 80-0.1US Måleapparat til materialetykkelse 0.75 - 80 mm Conrad DK 5890,00 Gratis € 5890,00 På lager Ny Gem nuPlacer din ordre nu
Favou 6842,35 Gratis € 6842,35 På lager Ny Sold out
Bestes Angebot

Price history

Receive a price alert

Product information

Sauter TN 80-0.1US Måleapparat til materialetykkelse 0.75 - 80 mm
- Eksternt målehoved - data interface RS-232, som standard (kun modeller med læsbarhed = 0,01 mm) - leveres i robust bæretaske - scan-tilstand (10 målinger pr. sekund) eller enkelt målepunkt kan vælges - intern datahukommelse til op til 20 filer (med op til 100 individuelle værdier pr....